WEP026
ポスターセッション① 8月6日 7-1F-B 12:40-14:40
荷電粒子誘起発光を用いたEu試料分析の現状
Current Status of Eu Sample Analysis Using Ion Beam Induced Luminescence
○片桐 悠汰, 梅垣 堅介, 王 聿恒, 河原林 順, 羽倉 尚人（東京都市大学）
○Yuta Katagiri, Kensuke Umegaki, Yuheng Wang, Jun Kawarabayashi, Naoto Hagura（Tokyo City University）
高レベル放射性廃液には、アメリシウム（Am）をはじめとするマイナーアクチニド（MA）が含まれており、その化学状態解析は再処理および廃棄物処理技術の向上において重要である。しかし、従来の分析手法では、溶媒中のAmの化学状態を直接観察することが困難であった。そこで、Amと類似した電子構造を持ち、発光特性が良く知られているEuをモデル試料に使用し荷電粒子誘起発光(IBIL)分析を行った。IBIL分析は東京都市大学原子力研究所において運用されている1.7MVペレトロン・タンデム加速器(都市大タンデム(TCU-Tandem))によるプロトンビームを用いて行った。IBIL分析によりEuに起因する特定の電子遷移過程を同定出来ることを実証した。本発表では、IBIL分析を用いた化学状態分析を行うための研究課程の現状を報告するものである。