THP014
ポスターセッション② 8月7日 7-1F-A 13:00-15:00
PF-ARチタンサブリメーションポンプ端子の老朽化対策の検討
Consideration of deterioration for PF-AR titanium sublimation pumps terminals
○田中 窓香, 内山 隆司（高エネルギー加速器研究機構）
○Madoka Tanaka, Takashi Uchiyama（High Energy Accelerator Research Organization）
KEK PF-ARのチタンサブリメーションポンプ（TSP）の大気側端子部分で真空リークが発生した。リークの起きた端子には緑青が発生していて、これがリークの原因と考えられる。これを機に、全TSPの端子のチェックを行ったところ、数か所で緑青が、30ヶ所近くのTSPでケーブルの損傷が見つかった。TSPの多くは偏向電磁石の外側にあり、放射光の影響を受けやすく、ケーブル硬化や緑青発生の原因のひとつと考えられる。また端子にはステンレス製のカバーがついており、かねてからケーブルを傷つける原因と見做されている。それ以外にも何らかの悪影響を与えている可能性があり、再制作の必要性が論じられていた。以上の理由から、新しいカバーの制作にあたって、放射線の影響を論じるために、ガフクロミックフィルムを用いて放射線の調査を行った。その結果と今後の対策の検討について発表する。