FRP082
ポスターセッション③ 8月8日 61B 10:00-12:00
電気光学サンプリングによる電子ビームの軸方向電場の計測
Measurement of longitudinal electric field around electron beam using electro-optic sampling
○菅 晃一1, 2, 太田 雅人3, 4, 王 有為5, 加藤 康作5, 神戸 正雄6, 2, 楊 金峰2, Agulto Verdad C.5, 有川 安信5, 松井 龍之介7, 吉田 陽一2, 中嶋 誠5（1量研, 2阪大産研, 3核融合研, 4総研大, 5阪大レーザー研, 6埼玉大院理工, 7三重大電気電子工）
○Koichi Kan1, 2, Masato Ota3, 4, You Wei Wang5, Kosaku Kato5, Masao Gohdo6, 2, Jinfeng Yang2, Verdad Agulto5, Yasunobu Arikawa5, Tatsunosuke Matsui7, Yoichi Yoshida2, Makoto Nakajima5（1QST, 2SANKEN, Osaka University, 3NIFS, 4SOKENDAI, 5ILE, Osaka University, 6Saitama University, 7Mie University）
超短パルス電子ビームは、パルスラジオリシス等における反応解析の時間分解能の向上につなげることができる。同時に、ピコ秒・フェムト秒における電子の時間プロファイルの計測手法は、電子ビームを利用した時間分解計測のみならず、慣性核融合分野においても超高速プラズマダイナミクスの温度・密度情報を理解する観点から、必要となっている。
本発表では、35 MeVの電子ビームについて、電気光学（electro-optic, EO）サンプリングを用いたシングルショット時空間分布計測の確立、および、電子ビームの周りに形成される軸方向電場の可視化について報告する。本計測では、EO結晶の面の選定により、径方向・軸方向の電場分布の可視化が可能となった。径方向の電場ではビーム中心の強度は弱く径方向の極性反転がみられ、一方、軸方向の電場ではビーム中心の強度は強く軸方向にパルス分布が観測され、特性の違いが明らかとなった。