FRP049
ポスターセッション③ 8月8日 6-1F 10:00-12:00
Nextef2におけるXバンド高電界試験データの全パルス解析
Full pulse analysis of X-band High-Gradient Test Data Taken at Nextef2
○阿部 哲郎1, 佐藤 大輔2, 明本 光生1, 東 保男1, 肥後 寿泰1, 松本 修二1, 工藤 拓弥3, 草野 史郎3（1高エネ研, 2産総研, 3三菱電機システムサービス）
○Tetsuo Abe1, Daisuke Satoh2, Mitsuo Akemoto1, Yasuo Higashi1, Toshiyasu Higo1, Shuji Matsumoto1, Takuya Kudou3, Shiro Kusano3（1KEK, 2AIST, 3MELSC）
KEKのXバンド（11.4GHz）試験施設 Nextef2 では、様々な常伝導加速構造の高電界試験を行ってきている。常伝導加速構造の実用的な高電界性能は、主にブレークダウン（真空絶縁破壊）の発生頻度で決まる。ブレークダウン時には、空洞内で大きな電流が発生することの他、RF反射に特徴的な波形が出る。これまでの高電界試験では、ブレークダウン時の最後のパルスのみ、または最後の１０パルス程度のデータのみ保存・解析してきた。しかし、ブレークダウンの発生は多数回のパルス印加の積み上げの結果であり、十分前の段階で、その予兆を観測できる可能性がある。また、ブレークダウンはバイナリー的現象ではなく、中途半端な状態も観測されることがあり、それ自体最終的なブレークダウンの予兆である可能性もある。以上のことから、ブレークダウン現象の理解を深めるために、デジタイザーを導入して、全てのパルス情報を（最高50Hzで）保存・解析できるシステムを構築した。本発表では、全パルス情報の取得・保存システム、及び初期の全パルス解析の結果について報告する。